高低溫試驗箱非散熱試驗樣品的標(biāo)準(zhǔn)試驗?zāi)康氖菫榱颂峁┮环N標(biāo)準(zhǔn)的試驗程序，用以確定非散熱的電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品)在低溫貯存或使用的適應(yīng)性，試驗樣品應(yīng)在低溫下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，試驗持續(xù)時間通常從試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定時開始計算，本試驗是將具有室溫的試驗樣品放入溫度也為室溫的高低溫試驗箱內(nèi)，然后將試驗箱的溫度調(diào)整到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級的溫度值，在試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后，在改條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間，試驗樣品通常處于不工作狀態(tài)下，本試驗通常采用強迫空氣循環(huán)，試驗箱工作空間內(nèi)，應(yīng)提供標(biāo)準(zhǔn)試驗規(guī)程所要求的溫度條件，可以用強迫空氣循環(huán)來保持溫度均勻，為了限制輻射影響，箱內(nèi)壁各部分溫度與規(guī)定試驗溫差之差不應(yīng)該超過8%(按開爾文溫度計算)，且試驗樣品不應(yīng)受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元件的直接輻射。